采用底波高度法（F£¯B百分比法)对缺陷定量时，下面哪种说法正确（)？

A.F/B相同，缺陷当量相同

B.该法不能给出缺陷的当量尺寸

C.适用于对尺寸较小的缺陷定量

D.适于对密集性缺陷的定量

A.当反射波幅达到或超过5mm深人工切槽的缺陷时

B.当反射波幅大于5mm深人工切槽-6dB的表面缺陷，且缺陷指示长度超过10mm的缺陷时

C.当反射波幅大于5mm深人工切槽-6dB的内部缺陷，且缺陷指示长度超过20mm的缺陷时

D.当缺陷处底波与正常底波比较有明显降低时

A.5MHz10x2,焦距30mm双晶直探头

B.2.5MHzΦ14mm直探头

C.2.5MHzΦ20mm直探头

D.2.5MHz8x10mm,60°斜探头

A.缺陷回波法

B.底面多次回波法

C.透过波高度法

A.平底孔试块法

B.底波高度法

C.底波高度和次数综合法

D.A和B

A.平底孔

B.粗细均匀的长条形缺陷

C.粗细不均匀的长条形缺陷

A.-6dB法

B.端部最大回波法

C.-10dB法

D.端点衍射波法

A.单个缺陷反射波幅

B.缺陷引起的底波降低量

C.缺陷密集区占探伤总面积百分比

D.以上都可以作为独立评级的依据