工件表面的纵向缺陷可以通过平行于缺陷的电流检测出来，这是因为（)。

A.平行于探测面的缺陷

B.与探测面倾斜的缺陷

C.垂直于探测面的缺陷

D.不能用斜探头检测的缺陷

A.探测和评定试件中的各种缺陷

B.探测和确定试样中缺陷的长度,深度和宽度

C.确定试样的抗拉强度

D.探测工件表面的开口缺陷

A.周向磁化

B.纵向磁化

C.复合磁化

D.横向磁化

设晶片表面的平均入射声压为P0则理想园平面小缺陷的反射声压PF=P0As·S/λ2X2，反射波的声压与缺陷面积S成()比，同时与缺陷距离X的()成反比而()。面积为As的晶片近场距离为N，当距离在1.6N以外时,这个算式可以认为基本上是成立的。

A.人的视力为5.0站在离零件2.5米处，能看到零件表面的划印清晰，同时该划印影响到零部件的表面质量或电性能，该划印即判定划痕。

B.人的视力为4.5站在离零件1.5米处，能看到零件表面的划印清晰，同时该划印影响到零部件的表面质量或电性能，该划印即判定划痕。

C.人的视力为5.0站在离零件1.5米处，能看到零件表面的划印清晰，同时该划印影响到零部件的表面质量或电性能，该划印即判定划痕。

D.人的视力为4.5站在离零件2.5米处，能看到零件表面的划印清晰，同时该划印影响到零部件的表面质量或电性能，该划印即判定划痕