在使用金相显微镜时，若视场明亮，则使用的观察方法是()。

A.上芯顶针痕迹检查频次为1次/批

B.在100X显微镜下检查顶针痕迹时，如果顶针痕迹不清晰，未造成明显的不良，则判定为合格

C.MOSFET产品在100X显微镜下检查时，如有顶针印记，则判断为不良

D.在监控顶针痕迹时，必须使用设备的pickdie功能从晶圆上吸取芯片做样品监控，不允许使用镊子从兰膜上直接夹取

A.聚光、放大

B.偏光

C.缩小

D.删光

A.金相显微镜法

B.化学分析法

C.硫印检验法

D.以上均不是

在检查培养的细胞生长状况时，通常使用的显微镜是

A、普通光学显微镜

B、暗视野显微镜

C、倒置显微镜

D、相位差显微镜

E、电子显微镜

A.氯化钠

B.磷酸钠

C.氢氧化钾

D.氯化钙

在使用显微镜时，如果目镜是10倍，物镜是45倍，那么显微镜放大的倍为数()。

A.10倍

B.45倍

C.55倍

D.450倍

在使用显微镜时，如果目镜是10倍，物镜是45倍，寻么显微镜放大的伴倍数为()。

A.10倍

B.45倍

C.55倍

D.450倍